OP1315插损回损测试仪是本公司自主研发的高精度的宽量程的测试设备。插损回损测试仪采用独有的2级光放大技术和采样技术是业界领先的光测试测量产品。插损回损测试仪已经广泛的应用在光器件生产和研发，各类型光电实验室教学中。
产品特性：
Ø 内置1310和1550 nm ，IRL-650 支持 650红光断点检测
Ø 内置1310和1550 nm ，IRL-650 支持 850 多模插损测试
Ø 液晶屏刷新率动态可调，2波长插损回损同时显示
Ø 小信号测量（1nW输入），不准确度小于0.1dB ；
Ø 串口R232控制，提供串口指令，并可自动存储数据；
Ø FC, SC ,光纤夹万能连接头,通用光纤夹可选配；
