摘要

【痛点】光通信器件、硅光芯片、CPO 模块测试面临宽波段覆盖、高速扫描、高精度校准等核心需求;

【产品】优峰技术 exdBm/GouMax 系列可调激光光源;

【参数】1250-1680nm 全波段覆盖、800-1600nm/s 扫描速度、OSNR>80dB;

【应用】WDM 器件测试、硅光芯片 PDL 分析、CPO 阵列 PER 测量;

【价值】无机械磨损设计 + 多场景适配,测试效率提升 60% 以上。

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一、行业测试痛点催生可调激光光源技术革新

随着 5G 通信、数据中心、光量子计算等领域的快速发展,光电子器件向高密度、高速率、小型化方向迭代,对测试设备提出了更严苛的要求。据光通信行业报告显示,2025 年全球光器件测试仪器市场规模突破 80 亿美元,其中可调激光光源作为核心测试设备,需求年增长率达 12.3%。
当前测试场景中,企业普遍面临三大痛点:一是传统光源波段覆盖窄,无法满足多类型器件测试需求;二是扫描速度慢,导致批量生产测试效率低下;三是稳定性不足,易受环境干扰影响测试精度。优峰技术凭借 20 余年光芯片与光器件测试经验,整合 exdBm 自有品牌、GouMax 合作品牌的技术优势,推出全系列可调激光光源,完美适配光通信、硅光、CPO 等多场景测试需求。

二、优峰可调激光光源核心产品矩阵与技术优势

优峰可调激光光源形成了覆盖不同功率、波段、扫描速度的完整产品体系,核心型号包括 exdBm TLS2005/2008、GouMax TLS1200 等,配合 InLine 偏振控制设备与横河测试仪表,构建起一体化测试解决方案。

(一)核心产品参数对比

         产品系列           波长范围         扫描速度        核心优势       适用场景
exdBm TLS2005700-1700nm(可定制)400-800nm/s单台覆盖 430nm 带宽,功率稳定性≤±0.01dB光器件通用测试、镀膜监控
exdBm TLS10061522-1570nm<100us 切换速度1pm 波长分辨率,C-band 精准适配EDFA 性能测试、高精度校准
GouMax TLS12001250-1680nm(可定制 532-1700nm)800-1600nm/s
MEMS 技术无机械磨损,OSNR>80dB
高速扫描测试、CPO 模块测试

  (二)差异化技术亮点

  1.全波段覆盖能力:GouMaxTLS1200单台设备即可覆盖1250-1680nm波段,支持O/E/S/C/L/U多波段灵活组合,无需更换设备即可完成不同类型器件测试,大幅降低测试成本。

  2.超高速扫描性能:最高1600nm/s的扫描速度,配合LSA系列多通道功率计,3秒内即可完成100nm范围内的PDL谱线测试(约2万数据点),测试效率较传统设备提升3倍以上。

  3.极致稳定性设计:采用全密封充氮气处理的内部滤波器,完美解决水峰吸收问题;功率稳定性可达≤±0.004dB,确保长时间批量测试的一致性。

  4.多品牌协同适配:可无缝对接InLineCUBE-ER100消光比测试仪、横河AQ6151B波长计,形成从光源到检测的全链路测试方案,数据精准度提升20%。

  三、三大典型应用案例:从实验室到生产线的全场景落地

  (一)WDM器件批量测试:效率与精度双提升

  某头部光通信企业需对DWDM滤光片进行批量测试,要求覆盖1520-1570nm波段,测试指标包括插损、中心波长、隔离度等,传统设备单批次测试需40分钟,无法满足产能需求。

  解决方案:采用GouMaxTLS1200可调激光光源+LSA300B八通道功率计的组合方案。TLS1200的800nm/s扫描速度配合八通道并行测试,单批次测试时间压缩至8分钟,效率提升5倍;其±10pm波长精度与>80dB隔离度测试范围,确保中心波长测试误差<0.05nm,隔离度测试接近80dB,完全满足客户高精度要求。

  测试结果:批量测试合格率从92%提升至98.5%,年产能提升400万件,该方案已成为该企业生产线标准配置,类似案例已在天孚通信、江苏永鼎等企业广泛应用。

  (二)硅光芯片PDL/TE/TM测试:精准捕捉偏振特性

  某高校科研团队在硅光芯片研发过程中,需要精准测量芯片的偏振相关损耗(PDL)及TE/TM模谱,传统光源偏振控制能力不足,导致测试数据波动大。

  解决方案:选用exdBmTLS2008可调激光光源+InLinePCM-100偏振控制器+横河AQ6374E光谱仪的组合方案。TLS2008支持窄线宽(<100KHz)定制,配合PCM-100的快速偏振控制(500次/秒),可在1秒内获取TM/TE完整谱线;AQ6374E光谱仪350-1750nm宽波长范围与0.05nm波长精度,确保PDL测试分辨率达0.002dB。

  测试结果:成功捕捉到芯片在1542nm波段的PDL峰值仅0.017dB,测试重复性误差<0.005dB,为芯片结构优化提供了精准数据支撑,该方案已被华中科技大学、西安电子科技大学等科研机构采用。

  (三)CPO模块自动化ER测试:适配高密度封装需求

  随着CPO(共封装光学)技术兴起,某数据中心设备商需要对CPO光纤阵列组件进行偏振消光比(PER)自动化测试,要求单通道测试时间<30秒,PER测试范围>50dB。

  解决方案:采用GouMaxTLS1200可调激光光源+InLineCUBE-ER100消光比测试仪的自动化方案。TLS1200的全波段覆盖能力适配CPO模块多通道测试需求,CUBE-ER100高达52dB的PER动态范围与0.12°角分辨率,可精准测量每通道的PER值与偏振角度;配合优峰定制化自动化软件,支持4/8/16路工位灵活配置,实现从光路对准到数据输出的全流程自动化。

  测试结果:单通道测试时间缩短至22秒,PER测试精度<±0.15dB,角度精度<±0.5°,完全满足CPO模块量产测试需求,已应用于华为、Accelink等企业的CPO研发与生产环节。

  四、优峰一体化测试解决方案的核心价值

  1.全链路适配能力:从光源到检测设备,从硬件到软件,优峰技术整合exdBm、GouMax、InLine、横河等多品牌资源,提供“一站式”测试解决方案,避免不同品牌设备兼容性问题。

  2.定制化服务支持:可根据客户需求定制波长范围、功率参数、软件功能,如针对特殊波段测试需求,提供532-1700nm范围内的定制化光源;软件支持MES/ERP系统对接,Excel数据一键导出。

  3.完善的服务保障:东莞设立备品备件库,提供应急调用服务;所有产品均支持国内维修校准,响应时间<48小时,确保生产线连续运行。

  五、选型建议与实操注意事项

  1.选型三原则:根据测试波段选择产品(C-band优先TLS1006,全波段优先TLS1200);根据测试速度需求选择扫描速率(批量生产优先1600nm/s型号);根据精度要求搭配检测设备(科研级建议配横河AQ6151B波长计)。

  2.实操注意事项:测试前需进行波长校准,建议搭配内置波长校准功能的LSA系列功率计;在高湿度环境下使用时,需开启防潮保护功能,避免影响水峰吸收处理效果;批量测试时定期检查光源输出功率稳定性,确保测试数据一致性。

  结尾

  优峰技术可调激光光源凭借全波段覆盖、超高速扫描、极致稳定等核心优势,已在光通信、硅光芯片、CPO等领域积累865+应用案例,服务于华为、天孚通信、中科院等众多知名企业与科研机构。无论是实验室研发还是生产线批量测试,优峰都能提供精准适配的测试解决方案。

  如需获取定制化测试方案或产品样机试用,可联系咨询电话0755-23016665,或发送邮件至sales@opeaktech.com。你在光器件测试中遇到过哪些波段匹配或速度瓶颈问题?欢迎留言讨论。

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